Optical film thickness measurement method, optical film thickness measurement system, optical film thickness measurement program, and so on
WO2013001955
Art A1
3. Januar 2013
Anmelder: Konica Minolta, Inc. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013001955
- Aktenzeichen
- EP12804432
- Anmeldetag
- 28. Mai 2012
- Veröffentlichung
- 3. Januar 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/06G01N21/27G01N33/543
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Konica Minolta, Inc.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Konica Minolta
Japanisches Technologieunternehmen, das Bürodrucksysteme, Multifunktionsgeräte, optische Geräte sowie Mess- und Sensortechnik herstellt.
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