Test apparatus having a probe card and connector mechanism

WO2013006768 Art A2 10. Januar 2013

Anmelder: Celadon Systems, Inc., Intel Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013006768
Aktenzeichen: EP12806960
Anmeldetag: 6. Juli 2012
Veröffentlichung: 10. Januar 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Celadon Systems, Inc.
Intel Corporation
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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