Method for manufacturing semiconductor device

WO2013011548 Art A1 24. Januar 2013

Anmelder: Fuji Electric Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013011548
Aktenzeichen: EP11869548
Anmeldetag: 15. Juli 2011
Veröffentlichung: 24. Januar 2013
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/336H01L21/02H01L21/76H01L29/06H01L29/739H01L29/78

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Fuji Electric Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fuji Electric

Japanischer Elektrotechnikkonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Leistungshalbleiter, Energieerzeugungsanlagen und industrielle Automatisierungstechnik.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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