Method and system for vicarious spatial characterization of a remote image sensor

WO2013019180 Art A1 7. Februar 2013

Anmelder: Raytheon Company 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013019180
Aktenzeichen: EP11749992
Anmeldetag: 29. Juli 2011
Veröffentlichung: 7. Februar 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01C11/00G01M11/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Raytheon Company
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Raytheon Company

US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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