Simultaneous refractive index and thickness measurments with a monochromatic low-coherence interferometer
WO2013019776
Art A2
7. Februar 2013
Anmelder: University of Florida Research Foundation, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013019776
- Aktenzeichen
- EP12820183
- Anmeldetag
- 31. Juli 2012
- Veröffentlichung
- 7. Februar 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- University of Florida Research Foundation, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
University of Florida Research Foundation
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