Method and system for characterizing efficiency impact of interruption defects in photovoltaic cells

WO2013022711 Art A1 14. Februar 2013

Anmelder: Kla-Tencor Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013022711
Aktenzeichen: EP12822804
Anmeldetag: 2. August 2012
Veröffentlichung: 14. Februar 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26H01L31/042H01L31/18

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kla-Tencor Corporation
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 KLA Corporation

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

1.908 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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