Method for generating master data for substrate inspection

WO2013027550 Art A1 28. Februar 2013

Anmelder: Fuji Machine Mfg. Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013027550
Aktenzeichen: EP12826347
Anmeldetag: 1. August 2012
Veröffentlichung: 28. Februar 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/956G06T1/00H05K3/34

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Fuji Machine Mfg. Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fuji Machine Mfg.

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Chiryu, das Bestückungsautomaten und Fertigungssysteme für die Elektronikindustrie herstellt.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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