Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der Verformung eines Substrates
WO2013037780
Art A1
21. März 2013
Anmelder: Aixtron SE 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013037780
- Aktenzeichen
- EP12772081
- Anmeldetag
- 12. September 2012
- Veröffentlichung
- 21. März 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/687H01L21/67C23C16/458
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Aixtron SE
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Aixtron
Aixtron ist ein deutscher Hersteller von Depositionsanlagen für die Halbleiterindustrie. Der Patentbestand konzentriert sich auf Metallurgie und Oberflächentechnik sowie Halbleiterbauelemente, ergänzt durch Verfahrens- und Messtechnik. Die Anmeldungen aus 2000 bis 2025 betreffen unter anderem die Reinigung und den Betrieb von CVD-Reaktoren.
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