X-ray examination device, x-ray examination device control method, program for controlling x-ray examination device, and storage medium for storing program

WO2013039032 Art A1 21. März 2013

Anmelder: Omron Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013039032
Aktenzeichen: EP12831589
Anmeldetag: 10. September 2012
Veröffentlichung: 21. März 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Omron Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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