Flash memory storage unit capable of verifying reliability using a bypass path, and a system and method for verifying reliability of the flash memory storage unit using same
WO2013042972
Art A2
28. März 2013
Anmelder: SNU R&DB Foundation 🇰🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013042972
- Aktenzeichen
- EP12833793
- Anmeldetag
- 21. September 2012
- Veröffentlichung
- 28. März 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11C29/00G11C16/06G11C16/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SNU R&DB Foundation
- Land
- 🇰🇷 Südkorea
🇰🇷
SNU R&DB Foundation
Südkoreanische Stiftung der Seoul National University für Forschungsförderung und Technologietransfer, verwaltet Patente und Kooperationen mit der Industrie.
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