Flash memory storage unit capable of verifying reliability using a bypass path, and a system and method for verifying reliability of the flash memory storage unit using same

WO2013042972 Art A2 28. März 2013

Anmelder: SNU R&DB Foundation 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2013042972
Aktenzeichen
EP12833793
Anmeldetag
21. September 2012
Veröffentlichung
28. März 2013
Rechtsraum
WO
IPC
G11C29/00G11C16/06G11C16/02
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
SNU R&DB Foundation
Land
🇰🇷 Südkorea
🇰🇷 SNU R&DB Foundation

Südkoreanische Stiftung der Seoul National University für Forschungsförderung und Technologietransfer, verwaltet Patente und Kooperationen mit der Industrie.

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