Verfahren zur Bestimmung der Dicken von Schichten eines Schichtsystems
WO2013045433
Art A1
4. April 2013
Anmelder: Carl Zeiss Microscopy GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013045433
- Aktenzeichen
- EP12772257
- Anmeldetag
- 25. September 2012
- Veröffentlichung
- 4. April 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/06G05B13/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
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