Optical element, method for manufacturing same, and shape inspecting apparatus
WO2013046934
Art A1
4. April 2013
Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013046934
- Aktenzeichen
- EP12837122
- Anmeldetag
- 6. August 2012
- Veröffentlichung
- 4. April 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G02B3/14G01B11/24G01N21/956G02B21/02G02B26/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi High-Technologies Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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