Inspection device and inspection method for member having fine uneven structure on surface thereof, manufacturing method for member having anodic alumina layer on surface thereof, and manufacturing method for optical film

WO2013047593 Art A1 4. April 2013

Anmelder: Mitsubishi Rayon Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013047593
Aktenzeichen: EP12837437
Anmeldetag: 26. September 2012
Veröffentlichung: 4. April 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G01B11/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Mitsubishi Rayon Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Mitsubishi Rayon

Ehemaliges japanisches Chemieunternehmen mit Sitz in Tokio, spezialisiert auf Kohlenstofffasern und Kunststoffe, seit 2017 als Mitsubishi Chemical firmierend.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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