Method for predicting reliability service life of soi mosfet device

WO2013056490 Art A1 25. April 2013

Anmelder: Peking University 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013056490
Aktenzeichen: EP11874243
Anmeldetag: 30. November 2011
Veröffentlichung: 25. April 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Peking University
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Peking University

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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