Analysis device and analysis method

WO2013062084 Art A1 2. Mai 2013

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013062084
Aktenzeichen: EP12843681
Anmeldetag: 26. Oktober 2012
Veröffentlichung: 2. Mai 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01N35/00G01N1/10G01N27/62G01N30/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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