Film thickness measurement method and film thickness measurement device
WO2013065164
Art A1
10. Mai 2013
Anmelder: Tohoku University, Kanto Auto Works, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013065164
- Aktenzeichen
- EP11875099
- Anmeldetag
- 4. November 2011
- Veröffentlichung
- 10. Mai 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B17/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Tohoku University
Kanto Auto Works, Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
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