Housing having electricity conduction pattern formed thereon, antenna device, electricity conduction testing method, electricity conduction testing jig, and antenna device manufacturing method

WO2013065410 Art A1 10. Mai 2013

Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013065410
Aktenzeichen: EP12846254
Anmeldetag: 13. September 2012
Veröffentlichung: 10. Mai 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/02H01P11/00H01Q1/38

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Sharp Kabushiki Kaisha
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sharp

Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.

22.803 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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