Observation specimen for use in electron microscopy, electron microscopy, electron microscope, and device for producing observation specimen

WO2013065475 Art A1 10. Mai 2013

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013065475
Aktenzeichen: EP12845750
Anmeldetag: 16. Oktober 2012
Veröffentlichung: 10. Mai 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01N1/28G01B15/02H01J37/20H01J37/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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