Method for detecting uv irradiance of multilayer uv oven during tft-lcd process and combined substrate-retrieving device for implementing the method

WO2013067715 Art A1 16. Mai 2013

Anmelder: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co. Ltd. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013067715
Aktenzeichen: EP11875264
Anmeldetag: 14. November 2011
Veröffentlichung: 16. Mai 2013
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66G01J1/00H01L21/677

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co. Ltd.
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 China Star Optoelectronics (CSOT)

Chinesischer Displayhersteller mit Sitz in Shenzhen, Tochtergesellschaft des TCL-Konzerns. CSOT entwickelt und produziert LCD- und OLED-Panels für Fernseher, Monitore und mobile Endgeräte.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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