Nondestructive inspection device and method for detecting positional deviation with nondestructive inspection device

WO2013069353 Art A1 16. Mai 2013

Anmelder: Hamamatsu Photonics K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013069353
Aktenzeichen: EP12848301
Anmeldetag: 22. August 2012
Veröffentlichung: 16. Mai 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G21K5/00G01N23/04G01T7/00G21K5/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hamamatsu Photonics K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

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Fachgebiete

Elektrische Energietechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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