Circuits and methods for fault testing

WO2013070387 Art A1 16. Mai 2013

Anmelder: Allegro Microsystems, LLC 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013070387
Aktenzeichen: EP12780363
Anmeldetag: 15. Oktober 2012
Veröffentlichung: 16. Mai 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3185G01R15/20H01L27/22

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Allegro Microsystems, LLC
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Allegro MicroSystems

US-amerikanischer Halbleiterhersteller, spezialisiert auf Magnetsensoren und Leistungshalbleiter für Automobil- und Industrieanwendungen wie Motorsteuerung und Positionserfassung.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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