Method and apparatus for determining grain size of a surface

WO2013070482 Art A1 16. Mai 2013

Anmelder: First Solar, Inc, Allenic, Arnold, Karpenko, Oleh, Petro, Milshtein, Erel, Yu, Ming L. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013070482
Aktenzeichen: EP12812415
Anmeldetag: 1. November 2012
Veröffentlichung: 16. Mai 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01N15/02H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: First Solar, Inc
Allenic, Arnold
Karpenko, Oleh, Petro
Milshtein, Erel
Yu, Ming L.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 First Solar

First Solar ist ein US-amerikanischer Hersteller von Dünnschicht-Solarmodulen. Das Patentportfolio konzentriert sich sehr stark auf Halbleiterbauelemente, ergänzt durch Metallurgie sowie Elektro- und Messtechnik. Die Anmeldungen aus 2000 bis 2025 betreffen unter anderem Rückkontakte und Halbleiterkontaktschichten für Photovoltaikmodule.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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