Polarized wave analyzer, polarized wave analysis method, physical property measurement device, and physical property measurement method

WO2013077097 Art A1 30. Mai 2013

Anmelder: Keio University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013077097
Aktenzeichen: EP12851049
Anmeldetag: 9. Oktober 2012
Veröffentlichung: 30. Mai 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/21G01N21/35

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Keio University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Keio University

Die Keio University ist eine private Universität in Tokio, Japan, die in zahlreichen Fachrichtungen von Wirtschaft bis Ingenieurwissenschaften lehrt und forscht.

765 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von