Semiconductor element image recognition device and semiconductor element image recognition method

WO2013080956 Art A1 6. Juni 2013

Anmelder: Fuji Machine Mfg. Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013080956
Aktenzeichen: EP12852629
Anmeldetag: 27. November 2012
Veröffentlichung: 6. Juni 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/00G01N21/64G01N21/88G01N21/956H01L21/56H01L21/60H01L33/48H01L33/50

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Fuji Machine Mfg. Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fuji Machine Mfg.

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Chiryu, das Bestückungsautomaten und Fertigungssysteme für die Elektronikindustrie herstellt.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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