Verfahren zur Qualitätsermittlung eines Siliciumwafers
WO2013087839
Art A1
20. Juni 2013
Anmelder: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., Seidl, Albrecht, Birkmann, Bernhard, Lemke, Christian, Hendricks, Andreas, Siegmund, Sebastian 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013087839
- Aktenzeichen
- EP12812201
- Anmeldetag
- 14. Dezember 2012
- Veröffentlichung
- 20. Juni 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/66H01L31/18
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
Seidl, Albrecht
Birkmann, Bernhard
Lemke, Christian
Hendricks, Andreas
Siegmund, Sebastian - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Fraunhofer-Gesellschaft
Deutsche gemeinnützige Forschungsorganisation mit Sitz in München. Betreibt anwendungsorientierte Forschung in Technik und Naturwissenschaften über zahlreiche Institute für Industrie und Gesellschaft.
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