Mass analysis method and apparatus using scanner light source

WO2013094799 Art A1 27. Juni 2013

Anmelder: Korea Electronics Technology Institute 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013094799
Aktenzeichen: EP11878070
Anmeldetag: 29. Dezember 2011
Veröffentlichung: 27. Juni 2013
Rechtsraum: WO
IPC: H01J49/26G01N27/62

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Korea Electronics Technology Institute
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Electronics Technology Institute

Staatlich gefördertes südkoreanisches Forschungsinstitut für Elektronik- und IT-Technologien mit Sitz in Seongnam, das Unternehmen bei Entwicklung und Kommerzialisierung neuer Technologien unterstützt.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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