Electron microscope and device for holding sample for electron microscope

WO2013099435 Art A1 4. Juli 2013

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013099435
Aktenzeichen: EP12861364
Anmeldetag: 1. November 2012
Veröffentlichung: 4. Juli 2013
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/20H01J37/141H01J37/18

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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