Inspection correction device, inspection correction method and fiber laser

WO2013099448 Art A1 4. Juli 2013

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013099448
Aktenzeichen: EP12863649
Anmeldetag: 7. November 2012
Veröffentlichung: 4. Juli 2013
Rechtsraum: WO
IPC: H01S3/067G02F1/01H01L51/50H01S3/10H01S3/23H05B33/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Optik & Fototechnik

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