Method for creating the height information of a substrate inspection device

WO2013100223 Art A1 4. Juli 2013

Anmelder: Koh Young Technology Inc., Kyungpook National University Industry- Academic Cooperation Foundation 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013100223
Aktenzeichen: EP11878539
Anmeldetag: 28. Dezember 2011
Veröffentlichung: 4. Juli 2013
Rechtsraum: WO
IPC: H05K13/08G01B11/06

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Koh Young Technology Inc.
Kyungpook National University Industry- Academic Cooperation Foundation
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Kyungpook National University Industry-Academic Cooperation Foundation

Technologietransfer-Stiftung der staatlichen Kyungpook National University in Südkorea, zuständig für Forschungskooperationen und Patentverwertung. Patente decken ein breites Spektrum universitärer Forschung ab.

507 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von