Charged particle beam device and inclined observation image display method

WO2013103090 Art A1 11. Juli 2013

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013103090
Aktenzeichen: EP12864242
Anmeldetag: 20. Dezember 2012
Veröffentlichung: 11. Juli 2013
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/147H01J37/21H01J37/22H01J37/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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