On-die capacitance measurement module and method for measuring an on-die capacitive load
WO2013108082
Art A1
25. Juli 2013
Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013108082
- Aktenzeichen
- EP12865853
- Anmeldetag
- 20. Januar 2012
- Veröffentlichung
- 25. Juli 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R27/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Freescale Semiconductor, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Freescale Semiconductor
Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.
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