Semiconductor device manufacturing method using silicon-containing resist underlayer film forming composition for solvent development

WO2013115032 Art A1 8. August 2013

Anmelder: Nissan Chemical Industries, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2013115032
Aktenzeichen
EP13743393
Anmeldetag
23. Januar 2013
Veröffentlichung
8. August 2013
Rechtsraum
WO
IPC
G03F7/11G03F7/32G03F7/40H01L21/027
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Nissan Chemical Industries, Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Nissan Chemical Corporation

Japanisches Chemieunternehmen mit Sitz in Tokio, das agrochemische Wirkstoffe, elektronische Materialien sowie Feinchemikalien für die Halbleiterindustrie herstellt. Das Unternehmen wurde 1887 gegründet und hieß bis 2015 Nissan Chemical Industries.

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