Method of measuring height of projections or protrusions on article surface, and device therefor

WO2013115386 Art A1 8. August 2013

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013115386
Aktenzeichen: EP13744334
Anmeldetag: 1. Februar 2013
Veröffentlichung: 8. August 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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