Device and method for inspecting external appearance of substrate

WO2013121964 Art A1 22. August 2013

Anmelder: Fuji Machine Mfg. Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013121964
Aktenzeichen: EP13749281
Anmeldetag: 7. Februar 2013
Veröffentlichung: 22. August 2013
Rechtsraum: WO
IPC: H05K13/08G01N21/956H05K13/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Fuji Machine Mfg. Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fuji Machine Mfg.

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Chiryu, das Bestückungsautomaten und Fertigungssysteme für die Elektronikindustrie herstellt.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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