Substrate inspection system and data storage method
WO2013121967
Art A1
22. August 2013
Anmelder: Fuji Machine Mfg. Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013121967
- Aktenzeichen
- EP13748941
- Anmeldetag
- 7. Februar 2013
- Veröffentlichung
- 22. August 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H05K13/08G05B19/418H05K3/34
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Fuji Machine Mfg. Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fuji Machine Mfg.
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Chiryu, das Bestückungsautomaten und Fertigungssysteme für die Elektronikindustrie herstellt.
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Vertreten von
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