Architecture and method to determine leakage impedance and leakage voltage node

WO2013126427 Art A1 29. August 2013

Anmelder: Analog Devices, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013126427
Aktenzeichen: EP13752250
Anmeldetag: 20. Februar 2013
Veröffentlichung: 29. August 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01R27/00G01R27/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Analog Devices, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇮🇪 Analog Devices

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit irischer Konzerngesellschaft. Analog Devices entwickelt analoge, gemischte und digitale Signalverarbeitungschips für Industrie-, Kommunikations- und Automobilanwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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