Method of detecting irregular current flow in an integrated circuit device and apparatus therefor

WO2013128234 Art A1 6. September 2013

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013128234
Aktenzeichen: EP12869869
Anmeldetag: 27. Februar 2012
Veröffentlichung: 6. September 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01R19/165G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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