Method for manufacturing thin film transistor and method for manufacturing display device

WO2013132937 Art A1 12. September 2013

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013132937
Aktenzeichen: EP13757594
Anmeldetag: 4. Februar 2013
Veröffentlichung: 12. September 2013
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/336H01L21/316H01L29/786

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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