Stress assessment device, stress assessment method and program
WO2013132985
Art A1
12. September 2013
Anmelder: NEC Corporation, Tokyo Institute of Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013132985
- Aktenzeichen
- EP13757197
- Anmeldetag
- 7. Februar 2013
- Veröffentlichung
- 12. September 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06Q50/22A61B5/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NEC Corporation
Tokyo Institute of Technology - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
19.509 Patente in unserer Datenbank
🇯🇵
Tokyo Institute of Technology
Japanische technische Universität in Tokio mit Schwerpunkt auf Natur- und Ingenieurwissenschaften. Seit 2024 firmiert sie im Zuge einer Fusion als Institute of Science Tokyo.
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Vertreten von
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