Stress assessment device, stress assessment method and program

WO2013132985 Art A1 12. September 2013

Anmelder: NEC Corporation, Tokyo Institute of Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2013132985
Aktenzeichen
EP13757197
Anmeldetag
7. Februar 2013
Veröffentlichung
12. September 2013
Rechtsraum
WO
IPC
G06Q50/22A61B5/16
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
NEC Corporation
Tokyo Institute of Technology
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

19.509 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Tokyo Institute of Technology

Japanische technische Universität in Tokio mit Schwerpunkt auf Natur- und Ingenieurwissenschaften. Seit 2024 firmiert sie im Zuge einer Fusion als Institute of Science Tokyo.

739 Patente in unserer Datenbank

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