Shape-measurement device, system for manufacturing structural object, scanning device, method for measuring shape, method for manufacturing structural object, and shape-measurement program
WO2013133286
Art A1
12. September 2013
Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013133286
- Aktenzeichen
- EP13757668
- Anmeldetag
- 5. März 2013
- Veröffentlichung
- 12. September 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/25
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Nikon Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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