Fine Pitch Probe Array From Bulk Material

WO2013134561 Art A1 12. September 2013

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013134561
Aktenzeichen: EP13757239
Anmeldetag: 7. März 2013
Veröffentlichung: 12. September 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/067H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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