Wavelength scanning interferometer for aspheric measurements and application method therefor
WO2013134966
Art A1
19. September 2013
Anmelder: Zhejiang University 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013134966
- Aktenzeichen
- EP12871490
- Anmeldetag
- 21. März 2012
- Veröffentlichung
- 19. September 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B9/02G01B11/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Zhejiang University
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Zhejiang University
Chinesische Universität mit Sitz in Hangzhou, eine der führenden Forschungshochschulen Chinas mit breitem Fächerspektrum einschließlich Ingenieurwissenschaften und Materialforschung.
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