Modified particle purification method and manufacturing method, modified particles, functional material, optical member, heat transfer member, and coverage rate analysis device and coverage rate analysis method

WO2013136974 Art A1 19. September 2013

Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013136974
Aktenzeichen: EP13760517
Anmeldetag: 26. Februar 2013
Veröffentlichung: 19. September 2013
Rechtsraum: WO
IPC: B01J19/00B01D15/00B01D15/02B01J3/00B03B5/00B82Y30/00B82Y40/00G01N5/04G01N15/08

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Sharp Kabushiki Kaisha
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sharp

Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.

22.803 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Verfahrens- & Trenntechnik

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