Data processing device, semiconductor external view inspection device, and data volume increase alleviation method

WO2013140656 Art A1 26. September 2013

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013140656
Aktenzeichen: EP12872170
Anmeldetag: 1. November 2012
Veröffentlichung: 26. September 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G06F13/38G06F13/362G06F15/173G06T1/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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