Method for defect inspection

WO2013140952 Art A1 26. September 2013

Anmelder: Fujifilm Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013140952
Aktenzeichen: EP13764992
Anmeldetag: 25. Februar 2013
Veröffentlichung: 26. September 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/896

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Fujifilm Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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