Laterally driven probes for semiconductor testing

WO2013142806 Art A1 26. September 2013

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013142806
Aktenzeichen: EP13764132
Anmeldetag: 22. März 2013
Veröffentlichung: 26. September 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/067G01R31/26H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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