Array substrate of x-ray detection device and manufacturing method thereof

WO2013143296 Art A1 3. Oktober 2013

Anmelder: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co., Ltd. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013143296
Aktenzeichen: EP12873242
Anmeldetag: 14. November 2012
Veröffentlichung: 3. Oktober 2013
Rechtsraum: WO
IPC: H01L27/146G01T1/24H01L29/786

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co., Ltd.
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 BOE Technology

Chinesischer Elektronikkonzern mit Sitz in Peking, entwickelt und fertigt Display-Technologien wie LCD- und OLED-Bildschirme für Endgeräte und Industrieanwendungen.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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