Ion trap analyzer and ion trap mass spectrometry analysis method

WO2013143349 Art A1 3. Oktober 2013

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013143349
Aktenzeichen: EP13769903
Anmeldetag: 26. März 2013
Veröffentlichung: 3. Oktober 2013
Rechtsraum: WO
IPC: H01J49/04H01J49/42H01J49/02

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

2.214 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von