Diagnostic data generation apparatus, integrated circuit and method of generating diagnostic data

WO2013150342 Art A1 10. Oktober 2013

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013150342
Aktenzeichen: EP12873575
Anmeldetag: 5. April 2012
Veröffentlichung: 10. Oktober 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G09G5/36G09G3/36

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik

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