Sensorsystem und Verfahren zur Vermessung der Übertragungseigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen einem Sender und einem Empfänger

WO2013156557 Art A1 24. Oktober 2013

Anmelder: ELMOS Semiconductor AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013156557
Aktenzeichen: EP13716805
Anmeldetag: 18. April 2013
Veröffentlichung: 24. Oktober 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01S7/497G01S7/486

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: ELMOS Semiconductor AG
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Elmos Semiconductor

Elmos Semiconductor ist ein deutscher Halbleiterhersteller mit Sitz in Dortmund, spezialisiert auf integrierte Schaltungen für die Automobilindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Elektronik- und Kommunikationstechnik.

327 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von